TLP测试是半导体静电放电保护结构特性的测试方法

TLP测试，即传输线脉冲测试（Transmission Line Pulse Test），是一种专门用于评估半导体器件静电放电（ESD）保护结构特性的测试方法。自1985年起，IC行业就开始采用这种方法进行测试1235。TLP测试通过测量时域中的电流和电压来研究集成电路及其特性，从而模拟ESD事件对半导体器件的影响679。

TLP测试技术由Maloney等人在1985年提出，作为ESD模拟方法之一，它与传统的HBM（人体模型）、MM（机器模型）和CDM（带电设备模型）等测试方法相辅相成3。TLP测试被认为是目前分析ESD最重要的仪器手段之一，它能够提供比MK2测试仪更详细的反馈，后者只能反馈测试结果的通过与否，是一个静态的测试过程4。

总的来说，TLP测试是一种重要的工具，用于确保半导体器件在面对静电放电时具有足够的保护能力，从而提高其可靠性和性能。8